脑损伤是导致婴儿死亡和长期残疾的主要原因之一。其中最常见的类型之一是新生儿缺氧缺血性脑病（HIE），每年影响1到3名每千名活产婴儿，并占全球婴儿死亡率的22%。稍为少见的是围产期动脉缺血性中风（PAIS）。
这两种情况都可能影响中枢神经系统，导致出生后脑损伤和癫痫发作，并在儿童多年后引发神经和发育问题。
尽管HIE和PAIS在纸面上看起来相似，但《儿科研究》杂志上发表的一项研究指出，它们的潜在机制非常不同。HIE是由大脑血流和氧气的全面减少引起的，而PAIS则是由进入大脑主要动脉血管的血栓引起的。
目前针对HIE的标准治疗方法是一种旨在减缓因缺氧引起的细胞和分子损伤及炎症的脑冷却疗法。
研究人员利用一项大型多中心临床试验的数据，该试验旨在研究HIE治疗进展，包括来自多个美国儿科医院的研究人员，如Jessica Wisnowski博士，他们着手探索在被诊断为HIE的婴儿中PAIS的发生频率。
他们还试图将PAIS的存在与临床特征相关联，例如癫痫发作的风险、脑复温后的脑病发生率以及两岁时的神经发育结果。
研究设置和结果
研究数据包括在分娩后六小时内被诊断为中度或重度HIE的473名婴儿，这些婴儿参加了HEAL试验并接受了脑部MRI检查。
研究人员发现：
- 4%的中度至重度HIE婴儿在MRI上有PAIS的证据。
- 四分之三的PAIS婴儿也表现出HIE模式的脑损伤，并经历了比没有PAIS的婴儿更严重的并发症。
- 癫痫发作在PAIS婴儿中更为常见。
- PAIS婴儿在治疗五天后更有可能持续出现中度或重度脑病，而非PAIS婴儿。
- 尽管HIE婴儿数量众多，但只有21名婴儿患有PAIS，这限制了研究人员检测两年后结果统计显著差异的能力。
虽然研究人员在理解HIE和PAIS共同发生率方面取得了进展，但仍需进一步研究以了解导致这两种不同新生儿脑损伤的确切时间和发病机制。
可能的解释包括：
- HIE和PAIS具有类似的风险因素，如绒毛膜羊膜炎和胎盘疾病。
- HIE可能需要使用ECMO治疗，而ECMO本身是中风的一个风险因素，在PAIS婴儿中更为常见。
- 在分娩过程中发生的PAIS可能导致更困难和漫长的分娩过程，从而增加HIE的风险。
研究结果强调了大规模研究在改进新生儿脑损伤干预措施方面的价值。
Wisnowski博士表示：“这项研究表明，对于接受HIE低温治疗的婴儿，进行脑部MRI检查以识别所有类型的脑损伤的重要性。我们希望这项研究有助于指导这些导致婴儿死亡和长期残疾的主要原因的诊断和治疗进展。”
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